技術(shù)文章
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高低溫交變試驗(yàn)箱的容差范圍內(nèi)的中斷怎么辦?當(dāng)中斷期間的試驗(yàn)條件不超過允許誤差范圍時,中斷時間可作為總試驗(yàn)時間的一部分;對于欠試驗(yàn)條件的中斷,當(dāng)試驗(yàn)條件沒有達(dá)到允許誤差的下*,應(yīng)該要從低于測試條件的點(diǎn)重新達(dá)到預(yù)先規(guī)定的測試條件,以此恢復(fù)試驗(yàn),直到完成設(shè)定的試驗(yàn)周期;然后再重做試驗(yàn)樣...
2022-04-20溫度沖擊試驗(yàn)和溫度循環(huán)試驗(yàn)的差別溫度沖擊試驗(yàn):溫度沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的差異主要是應(yīng)力負(fù)荷機(jī)理不同。溫度沖擊試驗(yàn)主要考察由于蠕變及疲勞損傷引起的失效,而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效。溫度變化范圍很大,同時試驗(yàn)嚴(yán)酷度還隨著溫度變化率的增加而增加。升溫/降溫速率不低于30℃/分鐘。溫度沖擊試驗(yàn)容許使用二槽式試驗(yàn)裝置;溫度循環(huán)試驗(yàn)使用單槽式試驗(yàn)裝置。在二槽式箱體內(nèi),溫度變化率要大于50℃/分鐘。1、引起溫度沖擊的原因:回流焊,干燥,再加工,修理等制造、修理工藝中劇烈的溫...
鹽霧試驗(yàn)箱的試驗(yàn)方法中間歇性噴霧試驗(yàn)方法可作為連續(xù)性噴霧試驗(yàn)方法的替代方法使用。這種試驗(yàn)結(jié)果與在氯離子有重要影響的環(huán)境中(鹽來自于海水中或應(yīng)用防凍鹽的公路上)得暴露試驗(yàn)結(jié)果有更好地相關(guān)性。在這種情況下,模擬大氣腐蝕的加速腐蝕應(yīng)包括循環(huán)暴露于以下環(huán)境的過程:a)濕的階段,在此階段試樣首先暴露在鹽霧條件下,接著是保濕期,如此反復(fù)進(jìn)行。在保濕期,樣品表面保持潮濕。上述過程提供了長達(dá)幾個小時的濕潤狀態(tài)的連續(xù)暴露。b)控制循環(huán)濕度的階段,試樣通常被放置在一個相對高濕度和低濕度的相互交替...
高低溫試驗(yàn)箱的應(yīng)用技術(shù)1.溫度對試件的影響溫度相關(guān)試驗(yàn)是環(huán)境試驗(yàn)入門,包括高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、溫度變化試驗(yàn)。高低溫試驗(yàn)主要驗(yàn)證產(chǎn)品在極值溫度條件下是否發(fā)生變形或功能影響,是否可以正常運(yùn)作。溫度變化試驗(yàn)主要測試產(chǎn)品反復(fù)承受溫度極值的耐受力。2.高溫條件下試件的失效模式產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。高溫環(huán)境對設(shè)備的主要影響有:a.填充物和密封條軟化或融化;b.潤滑劑粘度降低,揮發(fā)加快,潤滑作用減小;c.電子電路穩(wěn)定性下降,絕緣...
恒溫恒濕試驗(yàn)箱產(chǎn)品型號:型號:OK-TH-80工作室尺寸:40×50×40cm箱體尺寸:100×165×100cm型號:OK-TH-150工作室尺寸:50×60×50cm箱體尺寸:120×170×120cm型號:OK-TH-225工作室尺寸:60×75×50cm箱體尺寸:135×165×125cm型號:OK-TH-408工作室尺寸:60×85×80cm箱體尺寸:160×190×155cm型號:OK-TH-800工作室尺寸:100×100×80cm箱體尺寸:180×200×16...
恒溫恒濕試驗(yàn)箱產(chǎn)品型號:型號:OK-TH-80工作室尺寸:40×50×40cm箱體尺寸:100×165×100cm型號:OK-TH-150工作室尺寸:50×60×50cm箱體尺寸:120×170×120cm型號:OK-TH-225工作室尺寸:60×75×50cm箱體尺寸:135×165×125cm型號:OK-TH-408工作室尺寸:60×85×80cm箱體尺寸:160×190×155cm型號:OK-TH-800工作室尺寸:100×100×80cm箱體尺寸:180×200×16...
恒溫恒濕試驗(yàn)箱產(chǎn)品型號:型號:OK-TH-80工作室尺寸:40×50×40cm箱體尺寸:100×165×100cm型號:OK-TH-150工作室尺寸:50×60×50cm箱體尺寸:120×170×120cm型號:OK-TH-225工作室尺寸:60×75×50cm箱體尺寸:135×165×125cm型號:OK-TH-408工作室尺寸:60×85×80cm箱體尺寸:160×190×155cm型號:OK-TH-800工作室尺寸:100×100×80cm箱體尺寸:180×200×16...
恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品型號:型號:OK-TH-80工作室尺寸:40×50×40cm箱體尺寸:100×165×100cm型號:OK-TH-150工作室尺寸:50×60×50cm箱體尺寸:120×170×120cm型號:OK-TH-225工作室尺寸:60×75×50cm箱體尺寸:135×165×125cm型號:OK-TH-408工作室尺寸:60×85×80cm箱體尺寸:160×190×155cm型號:OK-TH-800工作室尺寸:100×100×80cm箱體尺寸:180×200×16...
買回一臺昂貴的試驗(yàn)設(shè)備后,我們肯定不想它老會出現(xiàn)小問題,這樣不僅影響試驗(yàn),還對制造商打了大大的折扣,當(dāng)然身為制造商的我們也不想讓客戶在使用試驗(yàn)箱時老出故障,但是當(dāng)設(shè)備運(yùn)行一定期限以后,試驗(yàn)箱將不可避免得會出現(xiàn)各種各樣的故障現(xiàn)象,今天在這里小編主要為您將解的是恒溫恒濕試驗(yàn)箱:恒溫恒濕試驗(yàn)箱中一般電路故障的檢查與排除是試驗(yàn)中一個重要內(nèi)容,那么怎樣才能從一個完整電路的大量元件和電路中迅速、準(zhǔn)確找出故障,這就需要我們掌握電路故障的基本原理和正確的故障檢查、排除的方法。實(shí)驗(yàn)中的故障主要...
恒溫恒濕試驗(yàn)箱除了操作外,需要知道設(shè)備的保養(yǎng)、清潔及簡易故障的處理小知識,相比恒溫恒濕試驗(yàn)箱的制冷系統(tǒng)、加熱加濕電路系統(tǒng)等較復(fù)雜的故障處理:1、門燈故障現(xiàn)象:門燈不亮?檢查門燈,是否損壞,損壞更換;單位管理人員負(fù)責(zé)處理。檢查鎮(zhèn)流器,損壞,更換。單位管理人員負(fù)責(zé)處理。2、散熱風(fēng)扇故障現(xiàn)象:散熱風(fēng)扇不轉(zhuǎn)檢查電源電壓,單位管理人員負(fù)責(zé)處理。風(fēng)扇損壞,公司維修人員負(fù)責(zé)處理。3、門發(fā)熱絲故障現(xiàn)象:視窗玻璃在做低溫試驗(yàn)時,門玻璃不發(fā)熱在接線端子上拆下門發(fā)熱絲電線,用萬用表測量,如損壞,更...
恒溫恒濕試驗(yàn)箱降溫很慢是什么原因?一般情況下,恒溫恒濕試驗(yàn)箱是會按照設(shè)定的時間范圍,降溫到相應(yīng)值,但是由于設(shè)備使用時間過長,或者操作不當(dāng),會引起恒溫恒濕試驗(yàn)箱降溫緩慢的情況,現(xiàn)在就如何解決這一個問題,進(jìn)行技術(shù)探討。原因一:1.電氣系統(tǒng)沒有問題,繼續(xù)檢查制冷系統(tǒng)。首先檢查兩組制冷機(jī)組的低溫(R23)級壓縮機(jī)的排氣和吸氣壓力都較正常值偏低,而且吸氣壓力呈抽空狀態(tài),說明主制冷機(jī)組的制冷劑量不足。2.由于是溫度保持不住,觀察制冷壓縮機(jī)在試驗(yàn)箱運(yùn)行過程中是否能夠啟動,壓縮機(jī)在環(huán)境試驗(yàn)設(shè)...
一、危險和人身安全信息1、高溫燙傷恒溫恒濕試驗(yàn)箱在做高溫試驗(yàn)時箱內(nèi)溫度很高。試驗(yàn)過程中或試驗(yàn)剛結(jié)束時,如需打開箱門要特別小心,以免燙傷。冷凍機(jī)工作時,排氣銅管溫度很高運(yùn)轉(zhuǎn)過程中請勿觸摸,以免燙傷。2、低溫凍傷恒溫恒濕試驗(yàn)箱在做低溫試驗(yàn)時箱內(nèi)溫度很低。試驗(yàn)過程中或試驗(yàn)剛結(jié)束時,如需打開箱門要特別小心,以免凍傷。3、觸電雖然設(shè)備具有健全的防觸電措施,但是仍然需要注意,尤其是電器控制系統(tǒng),工作情況下,切勿觸摸電器部分。二、安裝安全信息1、電源恒溫恒濕試驗(yàn)箱電源使用三相五線制,設(shè)備電...
高溫試驗(yàn)箱適用于工礦企業(yè)、化驗(yàn)室、科研單位等做干燥烘焙滅菌作用。下面簡單介紹一下高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)步驟,一般分為7步完成:(一)、試驗(yàn)前確保被測樣品功能完好。(二)、將樣件上的的DC/DC電源模塊引腳電壓點(diǎn)分別用導(dǎo)線引出。(三)、將樣件放置在試驗(yàn)箱,連接好線束,各個產(chǎn)品之間不得接觸,接通電源,觀察上位機(jī)數(shù)據(jù),一切正常后通過上位機(jī)軟件更改歷史數(shù)據(jù)保存時間,更改為每分鐘保存記錄一次。(四)、待試驗(yàn)箱溫度升至設(shè)定試驗(yàn)溫度后,在該條件下樣件放置2h。(五)、將被測樣品某一電壓點(diǎn)的引出線和...